廠牌/型號：JEOL / JSM-7000F

儀器簡介：本設備之最大放大倍率可達65萬倍，解析度高達1.2奈米(當電壓為30 kV時)。本顯微鏡同時配置有反射電子偵測器，可分析樣本之成分與表面高程影像。另外，並有微區元素能量分析儀(簡稱EDS)，可定性及半定量分析樣本之組成元素與元素分佈。掃瞄式電子顯微鏡的應用範圍非常廣泛，包括所有需要觀察物質之細微構造之學科領域，如地質、生物、醫學、動物、材料、物理、化學、機械、冶金、電機、半導體等領域。

對外服務之分析項目：

1.樣本表面之觀察及照相。

2.樣本組成元素之定性與半定量分析 。

對外服務之分析項目：

◉初次試驗者務必於實驗前先行與聯絡人聯繫說明實驗目的與需求。

◉樣品需為乾燥狀態，且於真空環境中無揮發性。

◉不受理具備毒性、腐蝕性、揮發性、低熔點以及高能電子束撞擊下會分解/釋放氣體或熔成液態等特性試件，亦不接收強磁性、磁性(如鐵、鈷、鎳等)等易受電磁透鏡吸引之粉末型式樣品或材料。

◉送件樣品一律須具備導電特性 。

◉排定實驗使用時段後若不克前往者，最遲請於使用前一日下午五點前取消預約。預約當天臨時取消而無正當理由者，視同預約後無故不到，仍需收取單一時段費用。