(SEM)廠牌/型號：Bruker / M4

儀器簡介：
微區X光螢光分析儀為空冷、非破壞性檢測儀器，標本檢測快速，可應用於岩石、礦物、考古樣品等相關標本之分析，可偵測原子量大於鈉元素之成分，對於地質標本之分析極為有用。分析儀之分析點可小至~30um，空間上的解析度極高，對主要元素之分析亦可到達~1%或更佳之精確程度。 微區X光螢光分析儀為非破壞性檢測儀器，樣品不需製備即可分析，因此可分析貴重標本，並可在做完分析後再送至國內其他研究機構再做更精細之分析。

對外服務之分析項目：
地質材料分析。