廠牌/型號：FEI / QUANTA 250 FEG

儀器簡介：透過聚焦電子束掃瞄或定點，獲取礦物、岩石及其他固體材料之二次電子顯微影像（毫米至奈米尺度表面形貌）、背向散射電子顯微影像（試樣切面晶相／非晶相組織）、Ｘ光能量分散光譜主要元素成分分析（EDS）、元素分布圖像、電子背向散射繞射（EBSD）菊池繞射帶圖像（供晶相鑑定、晶相分布圖像、晶體方位、晶體方位分布圖像等）。例行操作採高真空模式，亦具備低真空與環境式操作模式（部分功能）。

對外服務之分析項目：
一、使用者聯繫實驗室技術人員或主持人評估可行性、試樣或試片處理方式、實施方式及時程。
二、使用者原則上須自行妥善製備試片，試片之一般性條件如下述五項，惟不同種類之樣品或不同分析需求會有不同限制條件，務請聯繫聯絡人確定詳細試片規範，以免無法獲致合理品質資料，甚至無法進行分析。
1. 樣品若為不導電，事先須經妥善鍍碳或鍍金處理。
2. 擬進行EDS分析之試片表面必須妥善拋光。擬進行EBSD分析之試片表面必須經膠體二氧化矽懸浮液適切拋光，以避免無法獲取堪用資料。
3. 擬進行EDS元素定量分析，請先洽詢可行性，使用者可能須自備適當標準品試片，另加儀器時間建立資料庫。
4. 粉末樣品務須先經儀器管理人員同意方可分析，須妥善檢查處理固定於載片，分析過程中，不可有飛散情形發生。
5. 不接受具揮發性、毒性、磁性、腐蝕性或污染性之樣品。
6. 樣品尺寸：(a) 薄片：27.5 mm × 48.0 mm或更小。(b) 光片或塊體：最大直徑30 mm，最大厚度15 mm，底部平整。(c) 電子背向散射繞射EBSD試片：最大直徑25 mm，最大厚度10 mm，底部平整。或洽聯絡人詢問細節。
三、使用者須自備燒錄光碟（儲存資料）。
四、使用者必須瞭解所需分析對象及所需資料種類，且原則上必須親身到場參與實驗分析，以確認無誤。
五、原則上使用者須自行判讀演繹資料。
六、其他需求或特殊情況，請先洽詢聯絡人或逕洽實驗室主持人。

對外服務項目之注意事項：
1.例行分析服務提供電子顯微影像、EDS或EBSD繞射資料。
2. 試片鍍碳或鍍金（附設鍍碳機、鍍金機）。
3. 其他需求或狀況，請先洽詢聯絡人或逕洽實驗室主持人。