廠牌/型號：INNOVA / NANODRIVE

儀器簡介：
1.對導體及絕緣體均有三維空間顯影能力。
2.可採用接觸式、輕敲式、非接觸式來量測樣品表面的幾何形貌。
3.利用原子間的凡得瓦力作用來呈現樣品表面的特性，是各種樣品表面粗糙度檢測及微觀表面特性研究的重要工具。

重要規格:
1.掃瞄範圍：100 X 100 X 10μm。
2.樣品載台：最大直徑200 mm，厚度10 mm。

對外服務之分析項目：
1.表面形貌與顯微組構(Tapping、Contact Mode)
2.磁力顯微術(MFM Mode)
3.導電顯微術 (C-AFM Mode)

對外服務項目之注意事項：
1.首次量測請與技術員聯絡，確認樣品量測之可行性。
2.自備符合機台使用之探針規格。
3.禁止揮發性及腐蝕性之樣品。

廠牌/型號：NETZSCH / STA449F3

儀器簡介：
用於連續升溫過程中，測量物質因受熱所造成的重量損失、溫度差與溫度間的關係，並可由此資訊得知熱裂解過程中熱裂解化學結構與其裂解之動力學。

重要規格:
1.操作溫度：室溫~1400℃
2.程控升溫速率：1~20℃/分
3.天平最大容量：1 克

對外服務之分析項目：
1.熱重分析(TG)。
2.差式熱分析(DTA)。
3.差式掃描熱量測定分析(DSC)。

對外服務項目之注意事項：
1.首次量測請與技術員聯絡，確認樣品量測之 可行性。
2.禁止強酸、強鹼、易揮發…等樣品。