(SEM)廠牌/型號：JEOL / JSM-6380LV

(EDS)廠牌/型號：Oxford / INCA 4.05

儀器簡介：本項設備屬於可變真空型，在低真空模式下，樣本免鍍碳處理，可迅速取得電子顯微影像，與執行原地(in-situ)微區之主要元素成分分析。

對外服務之分析項目：低真空模式下可執行BEI (Backscattered Electron Image) 影像拍攝，可執行定性與(半)定量之點分析、成分剖面分析(line profile)、面分析(mapping)。若要作物體表面之觀察將使用高真空模式取得SEI (Secondary electron image)影像，該模式下標本需事先鍍碳。

對外服務項目之注意事項：

1. 分析樣品須為岩石礦物薄片或其他固態標本，不接受含水分、粉狀、生物、強磁性、揮發性、毒性、腐蝕性、低熔點、高分子等標本。 

2. 最大直徑在46mm內，最大高度10mm內。